SYSTEMS AND METHODS FOR HIGH ACCURACY ANALYTE MEASUREMENT

• Main Authors: HODGES, ALASTAIR M, CHATELIER, RONALD C
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 23.10.2018
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

Methods for determining a concentration of an analyte in a sample, and the devices and systems used in conjunction with the same, are provided herein. In one exemplary embodiment of a method for determining a concentration of an analyte in a sample, a sample including an analyte is provided in a sample analyzing device having a working and a counter electrode. An electric potential is applied between the electrodes and a first analyte concentration is determined. A second analyte concentration value is calculated from the first analyte concentration value and corrected for temperature effects, fill time and capacitance to provide for a final analyte concentration value. Cette invention concerne des procédés permettant de déterminer la concentration d'un analyte dans un échantillon, et les dispositifs et systèmes utilisés conjointement avec ledit procédé. Dans un exemple de mode de réalisation du procédé permettant de déterminer la concentration d'un analyte dans un échantillon, un échantillon contenant un analyte est chargé dans un analyseur d'échantillons ayant une électrode de travail et une contre-électrode. Un potentiel électrique est appliqué entre les électrodes et une première concentration d'analyte est déterminée. Une seconde valeur de concentration d'analyte est calculée à partir de la première valeur de concentration d'analyte corrigée pour tenir compte des effets de la température, du temps du remplissage et de la capacité et obtenir ainsi une valeur de concentration d'analyte finale.