SYSTEM AND METHOD FOR DETECTION AND MEASUREMENT OF INTERFACIAL PROPERTIES IN SINGLE AND MULTILAYER OBJECTS

A system for determining a material property at an interface between a first layer and a second layer includes a transmitter outputting electromagnetic radiation to the sample, a receiver receiving electromagnetic radiation that was reflected by or transmitted though the sample, and a data acquisiti...

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Main Authors ZIMDARS, DAVID, WHITE, JEFFREY S, FICHTER, GREGORY D, DULING, IRL
Format Patent
LanguageEnglish
French
Published 03.10.2017
Subjects
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASURING
PHYSICS
TESTING
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Summary:A system for determining a material property at an interface between a first layer and a second layer includes a transmitter outputting electromagnetic radiation to the sample, a receiver receiving electromagnetic radiation that was reflected by or transmitted though the sample, and a data acquisition device. The data acquisition device is configured to digitize the electromagnetic radiation reflected by or transmitted though the sample to yield waveform data, wherein the waveform data represents the radiation reflected by or transmitted though the sample, the waveform data having a first magnitude, a second magnitude and a third magnitude. The material property to be determined is generally the adhesive strength between the first and second layers. L'invention porte sur un système pour déterminer une propriété de matériau au niveau d'une interface entre une première couche et une seconde couche, qui comprend un émetteur émettant un rayonnement électromagnétique vers l'échantillon, un récepteur recevant un rayonnement électromagnétique qui a été réfléchi par ou transmis à travers l'échantillon, et un dispositif d'acquisition de données. Le dispositif d'acquisition de données est configuré pour numériser le rayonnement électromagnétique réfléchi par ou transmis à travers l'échantillon pour conduire à des données de forme d'onde, les données de forme d'onde représentant le rayonnement réfléchi par ou transmis à travers l'échantillon, les données de forme d'onde ayant une première amplitude, une deuxième amplitude et une troisième amplitude. La propriété de matériau devant être déterminée est généralement la force d'adhésion entre les première et seconde couches.
Bibliography:Application Number: CA20102777381