METHOD OF PROCESSING SPECTROMETRIC DATA

• Main Author: PFAFF, HANS
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 06.09.2016
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS; ELECTRICITY; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

A method of characterising a sample from spectrometric data using calculation of spectral distance values is disclosed, for use in the field of mass spectrometry. Molecular formula assignment of peaks in mass spectral data is difficult and time-consuming, and the invention provides a computer implemented method of finding a most likely elemental composition of a measured spectral peak of interest. The method analyses isotopic peaks in a portion of the spectrum, using both their mass positions and intensities, to determine a spectral distance between those peaks and isotopic peaks of a candidate composition, finding peaks that match (140). A pattern spectral distance is determined (150) to provide a measure of the correspondence between a set of those peaks in the measured spectrum and peaks of each of a number of candidate compositions. The spectral fit is used to determine a most likely candidate composition (160). Méthode permettant de caractériser un échantillon à partir de données spectrométriques à laide dun calcul des valeurs de distance spectrale; la méthode est conçue pour être utilisée dans le domaine de la spectrométrie de masse. La formule moléculaire dattribution des crêtes, dans les données spectrales de masse, est difficile et longue, et la présente invention présente une méthode mise en uvre par ordinateur permettant de trouver la composition élémentaire la plus susceptible dune crête dintérêt spectrale mesurée. La méthode analyse les crêtes isotopiques dune partie du spectre, à laide des positions et des intensités de masse, pour déterminer une distance spectrale entre ces crêtes et les crêtes isotopiques dune composition candidate, puis trouve des crêtes correspondantes (140). Un motif de distance spectrale est déterminé (150) pour fournir une mesure de la correspondance entre un ensemble de ces crêtes, dans le spectre mesuré, et les crêtes de chacune des compositions candidates, parmi un certain nombre. Lappariement spectral est utilisé pour déterminer la composition candidate la plus probable (160).