Equipamento para determinação da aderência do revestimento on-line de chapa de aço recozido após galvanização, e sistema de produção de chapas de aço recozidas após galvanização

• Main Authors: SANO KOICHIRO, AOYAMA SHOHEI, FUJIMURA HAJIME, HASHIMOTO SHIGERU, NAKAZAWA MAKOTO, OMODAKA MASAAKI
• Format: Patent
• Language: Portuguese
• Published: 04.01.2022
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

equipamento para determinação da aderência do revestimento on-line de chapa de aço recozido após galvanização, e sistema de produção de chapas de aço recozidas após galvanização. a presente invenção refere-se a um equipamento de determinação on-line da aderência do revestimento de uma chapa de aço recozido após galvanização que inclui: um tubo de raios-x que irradia uma chapa de aço recozido após galvanização que viaja em uma linha de transporte, com raios-x; um sistema ótico que permite que os raios-x emitidos pelo tubo de raios-x irradiem a chapa de aço recozido após galvanização como um feixe paralelo e sejam difratados; e um detector que mede a intensidade dos raios-x difratados e é instalado em uma posição na qual o pico de difração de raios-x correspondente a um espaçamento de treliça do cristal d de 1,5 angstrons ou maior é detectado, no qual a luminância do feixe emitido dos raios-x é 20 w/mm2 ou maior, e o ganho na direção da largura dos raios-x no sistema ótico é 0,15 ou maior. o espaçamento da treliça de cristal d pode ser 1,914 angstrons. em adição, a energia dos raios-x incidentes a partir do tubo de raios-x pode ser menor que a energia de excitação da fluorescência fe-k(alfa) dos raios-x. An on-line coating adhesion determination apparatus of a galvannealed steel sheet, includes: an X-ray tube which irradiates a galvannealed steel sheet that travels on a transportation line, with X-rays; an optical system which allows the X-rays emitted from the X-ray tube to irradiate the galvannealed steel sheet as a parallel beam and be diffracted; and a detector which measures the intensity of the diffracted X-rays and is installed at a position at which the X-ray diffraction peak corresponding to a crystal lattice spacing d of 1.5A or higher is detected, in which an emitted beam luminance of the X-rays is 20 W/mm 2 or higher, and the width-direction gain of the X-rays in the optical system is 0.15 or higher. The crystal lattice spacing d may be 1.914Å. In addition, the energy of the incident X-rays from the X-ray tube may be lower than the excitation energy of Fe-K± fluorescence X-ray.