sistema de metrologia com sensor confocal a laser

sistema de metrologia com sensor confocal a laser a presente invenção refere-se a um aparelho para um método sem contato de obtenção de medições tridimensionais precisas de uma lente de contato seca, mais especificamente, com o uso de metrologia de lente seca a fim de conhecer uma espessura exata de...

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Main Authors JOHN B. ENNS, CHRISTOPHER WILDSMITH, MICHAEL F. WIDMAN, PETER W. SITES, MARK P. POWELL
Format Patent
LanguagePortuguese
Published 03.12.2019
Subjects
MEASURING
MEASURING ANGLES
MEASURING AREAS
MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS
PHYSICS
TESTING
TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES
TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Summary:sistema de metrologia com sensor confocal a laser a presente invenção refere-se a um aparelho para um método sem contato de obtenção de medições tridimensionais precisas de uma lente de contato seca, mais especificamente, com o uso de metrologia de lente seca a fim de conhecer uma espessura exata de uma lente de contato. The present invention provides apparatus for a non-contact method of obtaining accurate three-dimensional measurements of a dry contact lens, more specifically, using dry lens metrology to know the exact thickness of a contact lens.
Bibliography:Application Number: BR20131113440