MÉTODO PARA MEDIÇÃO DE ESPESSURA, DETECÇÃO DE FALHAS, CONTROLE E MONITORAMENTO DA QUALIDADE DE FIOS ATRAVÉS DE UM DISPOSITIVO ÓPTICO

• Main Authors: FLAVIO MASSAYUKI TANIGUCHI, JOVELINO TORRES DOS SANTOS, TIAGO PEREIRA DE SOUZA, TADEU ABREU CERQUEIRA, BRUNO GUIMARÃES COSTA ALVES
• Format: Patent
• Language: Portuguese
• Published: 12.07.2022
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; PHYSICS; TESTING

DISPOSITIVO ÓPTICO PARA MEDIÇÃO DE ESPESSURA, DETECÇÃO DE FALHAS, CONTROLE E MONITORAMENTO DA QUALIDADE DE FIOS O presente pedido de privilégio de invenção consiste em um dispositivo óptico-eletrônico para medir o diâmetro de vários tipos de fios, preferencialmente de seda, que estejam entre 20 (mi)m e 1000(mi)m tendo uma precisão menor ou igual a (mais ou menos) 0,5(mi)m para fios com diâmetro entre 20(mi)m e 70(mi)m e precisão menor igual a 0,65% para fios com diâmetro entre 70(mi)m e 1000(mi)m. O dispositivo é destinado principalmente ao controle de qualidade destes fios produzidos pela indústria têxtil, com monitoramento contínuo do diâmetro além da detecção de imperfeições (partículas) e nós (fushis) nos fios, com capacidade de envio dos dados através de rede de comunicação com ou sem fio e interface homem-máquina para configuração de suas funcionalidades e levantamento estatístico dos dados monitorados. A invenção proposta faz uso de uma técnica óptica não invasiva para medir os fios, sendo que com essa técnica é possível medir fios opacos e translúcidos, tais como fios têxteis, de ligas metálicas, de náilon e etc. Além disso, todo o processamento do sinal é realizado com análise do sinal no domínio da frequência, possibilitando operar tanto em ambiente laboratorial quanto em ambiente industrial, sujeito a diversas restrições.