Verfahren und Testsystem zur Bewertung der Qualität einer mikrooptischen und/oder subwellenlängenoptischen Mehrkanalprojektionseinheit

• Main Authors: SCHINDLER KATRIN, NOELL WILFRIED, WESTENHÖFER SUSANNE, AGIREEN ISABEL, TOURNOIS SOPHIANE
• Format: Patent
• Language: German
• Published: 05.03.2021
• Subjects: CALCULATING; COMPUTING; COUNTING; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING; PHYSICS

Ein Verfahren zur Bewertung der Qualität einer mehrkanaligen mikro- und/oder subwellenlängenoptischen Projektionseinheit (28) ist offenbart. Das Verfahren umfasst die folgenden Schritte: Wenigstens ein vorgegebener Abschnitt der optischen Projektionseinheit (28) wird so beleuchtet, dass von wenigste...