Parametric X-ray radiation and texture of polycrystalline foils

Текстура поликристаллической фольги вольфрама и никеля изучалась с использованием параметрического рентгеновского излучения (PXR), генерируемого электронами с энергией 7 МэВ. Получены кривые качания PXR из кристаллографических плоскостей (200) для вольфрама и (220) для никеля. Приведено сравнение с...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published inResource-Efficient Technologies no. 2; pp. 12 - 15
Main Authors Alexeyev, V.I., Eliseyev, A.N., Irribarra, E., Kishin, I.A., Kubankin, A.S., Nazhmudinov, R.M.
Format Journal Article
LanguageEnglish
Published 17.07.2018
Online AccessGet full text

Cover

More Information
Summary:Текстура поликристаллической фольги вольфрама и никеля изучалась с использованием параметрического рентгеновского излучения (PXR), генерируемого электронами с энергией 7 МэВ. Получены кривые качания PXR из кристаллографических плоскостей (200) для вольфрама и (220) для никеля. Приведено сравнение с аналогичными измерениями, полученными с использованием дифракции широкополосных рентгеновских лучей. Сравнение показало хорошее соответствие результатов, касающихся формы кривых качания и положения максимумов. Однако наблюдалось систематическое несоответствие в значении полного максимума полной ширины.
ISSN:2405-6537
2405-6537
DOI:10.18799/24056537/2018/2/190