化学效应对钴、镍、铜、锌配合物K壳层X射线荧光参数和俄歇辐射强度比的影响
对钴、镍、铜、锌元素组成的不同配合物K壳层X射线的产生截面、谱线强度比、俄歇辐射强度比进行了测定,同时研究了化学效应对K壳荧光参数和俄歇辐射强度比的影响,并根据电荷转移过程解释了这些参数的变化. 采用59.5 keV的γ射线241Am的环形放射源对样品进行激发. 用分辨率为150eV的Ultra-LEGe探测器在5.9 keV测定样品产生的K壳X射线....
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Published in | Chinese journal of chemical physics no. 2; pp. 138 - 144 |
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Main Author | |
Format | Journal Article |
Language | Chinese |
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2010
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Summary: | 对钴、镍、铜、锌元素组成的不同配合物K壳层X射线的产生截面、谱线强度比、俄歇辐射强度比进行了测定,同时研究了化学效应对K壳荧光参数和俄歇辐射强度比的影响,并根据电荷转移过程解释了这些参数的变化. 采用59.5 keV的γ射线241Am的环形放射源对样品进行激发. 用分辨率为150eV的Ultra-LEGe探测器在5.9 keV测定样品产生的K壳X射线. |
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Bibliography: | Charge transfer Cross-section Radiative Auger intensity ratio Ultra-LEGe detector Chemical effect 34-1295/O6 O |
ISSN: | 1674-0068 2327-2244 |