基于PILATUS探测器的von Hamos构型X射线发射谱谱仪及数据获取
TL81; 高能量分辨X射线发射谱(X-ray Emission Spectroscopy,XES)比常规X射线吸收精细结构谱(X-ray Absorption Fine Structure,XAFS)具有更高的能量分辨率,是探究物质精细电子结构的有力工具.PILATUS探测器是一种没有暗电流和读出噪声的单光子计数探测器,基于该探测器,在上海光源BL14W1线站搭建了一套von Hamos构型XES谱仪及数据获取系统,能量分辨率达到eV量级,接近此类构型光谱仪的世界先进水平.该光谱仪采用PILATUS探测器作为位置灵敏探测器使用,并结合线站单色器和KOHZU平台系统开发了一套基于LabVIEW...
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Published in | 核技术 Vol. 45; no. 9; pp. 1 - 7 |
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Main Authors | , , , |
Format | Journal Article |
Language | Chinese |
Published |
中国科学院大学 北京 100049%中国科学院上海高等研究院 上海 201204%中国科学院上海应用物理研究所 上海 201800
01.09.2022
中国科学院上海高等研究院 上海 201204 中国科学院上海应用物理研究所 上海 201800 |
Subjects | |
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ISSN | 0253-3219 |
DOI | 10.11889/j.0253-3219.2022.hjs.45.090101 |
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Summary: | TL81; 高能量分辨X射线发射谱(X-ray Emission Spectroscopy,XES)比常规X射线吸收精细结构谱(X-ray Absorption Fine Structure,XAFS)具有更高的能量分辨率,是探究物质精细电子结构的有力工具.PILATUS探测器是一种没有暗电流和读出噪声的单光子计数探测器,基于该探测器,在上海光源BL14W1线站搭建了一套von Hamos构型XES谱仪及数据获取系统,能量分辨率达到eV量级,接近此类构型光谱仪的世界先进水平.该光谱仪采用PILATUS探测器作为位置灵敏探测器使用,并结合线站单色器和KOHZU平台系统开发了一套基于LabVIEW软件的XES数据获取系统.对光谱仪系统进行了能量分辨率测试和CuO发射谱测量实验,获得样品发射的能量为8046 eV弹性散射峰的半高宽(Full-Width at Half Maximum,FWHM)为1.67 eV,表明基于PILATUS探测器的von Hamos构型XES谱仪系统可以满足高能量分辨实验的需求. |
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ISSN: | 0253-3219 |
DOI: | 10.11889/j.0253-3219.2022.hjs.45.090101 |