X光发散度对多切片扫描相干衍射成像质量的影响

• Published in: 核技术 Vol. 42; no. 5; p. 050101
• Main Authors: 聂巍, 许子健, 陶旭磊, 邰仁忠, 朱志远
• Format: Journal Article
• Language: Chinese
• Published: 中国科学院上海高等研究院 上海 201210)%中国科学院上海应用物理研究所 上海 201800 10.05.2019; 中国科学院大学 北京 100049)%中国科学院上海应用物理研究所 上海 201800; 中国科学院上海高等研究院 上海 201210; 上海科技大学 上海 201210%中国科学院上海应用物理研究所 上海 201800; 中国科学院大学 北京 100049; 上海科技大学 上海 201210; 中国科学院上海应用物理研究所 上海 201800
• Subjects: X-ray ptychography; Multi-slice 3D imaging; 入射X射线发散度; Incident X-ray divergence degree; Zone-plate focusing; 多切片三维成像方法; 波带片聚焦; X射线扫描相干衍射成像
• ISSN: 0253-3219
• DOI: 10.11889/j.0253-3219.2019.hjs.42.050101

TL99; 扫描相干衍射成像(Ptychography)技术目前已得到大范围的应用,获得了巨大成功.基于Ptychography的三维成像技术也得到了快速发展,在生物和材料领域的研究中得到了成功应用.常规的Ptychography三维成像技术仍是基于多角度投影的计算机断层成像技术,具有成像效率低、辐照剂量大的缺点.最近出现的多切片三维Ptychography成像方法,为高效低剂量的三维成像技术开辟了新的道路.为了进一步改善多切片方法的重建效率和图像质量,本文在优化迭代算法中驰豫系数的基础上,通过模拟计算系统地研究了入射X射线的发散度对多切片方法重建效果的影响.结果表明:入射X射线的发散度越高(数值孔径越高),多切片方法图像迭代重建的收敛越快,图像的重建质量也更好;而选择较小的入射X光发散度则不利于三维成像的高质量重建.该结论对于相关成像实验中聚焦光学的选择和设置具有重要的指导意义,如选择聚焦尺寸更小的波带片或较低的入射X射线能量,将更有希望获得好的多切片成像质量.