中子与γ射线辐照对B4C/环氧树脂屏蔽材料性能的影响

TL13; 中子与γ射线辐照对屏蔽材料性能的影响直接关系到了核设施的运行安全性.本研究以B4C/环氧树脂屏蔽材料作为研究对象,对比了在1 MGyγ射线及叠加1.19×1015 cm?2中子辐照两种辐照环境下屏蔽材料力学性能、断口组织形貌、特征化学产物及热稳定性能的变化规律.结果表明:持续约11.6 d的γ射线辐照及叠加持续约3 h的中子辐照后屏蔽材料力学性能持续降低,但均未降低到辐照前的50%以下,屏蔽材料在此条件下产生了辐照降解,但未发生失效.与单独的γ射线辐照相比,叠加中子辐照后屏蔽材料1H-NMR图谱δ=7附近峰的强度没有明显变化,说明未继续发生苯环上C?H键的断裂.屏蔽材料热失重50%...

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Published in辐射研究与辐射工艺学报 Vol. 40; no. 2; pp. 1 - 7
Main Authors 陈帅, 余磊, 周建明, 石建敏, 路广遥, 于晓飞, 侯硕
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 中广核研究院有限公司 深圳 518000%中国工程物理研究院核物理与化学研究所 绵阳 621000 01.04.2022
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Summary:TL13; 中子与γ射线辐照对屏蔽材料性能的影响直接关系到了核设施的运行安全性.本研究以B4C/环氧树脂屏蔽材料作为研究对象,对比了在1 MGyγ射线及叠加1.19×1015 cm?2中子辐照两种辐照环境下屏蔽材料力学性能、断口组织形貌、特征化学产物及热稳定性能的变化规律.结果表明:持续约11.6 d的γ射线辐照及叠加持续约3 h的中子辐照后屏蔽材料力学性能持续降低,但均未降低到辐照前的50%以下,屏蔽材料在此条件下产生了辐照降解,但未发生失效.与单独的γ射线辐照相比,叠加中子辐照后屏蔽材料1H-NMR图谱δ=7附近峰的强度没有明显变化,说明未继续发生苯环上C?H键的断裂.屏蔽材料热失重50%质量损失温度T50%由辐照前的526.3℃降低到了γ射线辐照后的453.2℃及γ射线叠加中子辐照后的463.9℃,屏蔽材料辐照后热稳定性降低.
ISSN:1000-3436
DOI:10.11889/j.1000-3436.2021-0201