基于挤压弯曲的柔性银导线力学可靠性试验研究

TH114; 柔性电子产品在使用过程中不可避免地会受到拉伸、弯曲等多种形式的复杂变形,在长时间工作中疲劳成为产品失效的重要模式之一.针对柔性电子导线可靠性问题,通过原位疲劳测试平台对导线弯曲疲劳损伤行为进行研究.在弯曲测试过程中,通过理论分析定量确定薄膜最小曲率半径与挤压位移的关系,并利用有限元仿真及实验验证了推论的正确性,然后对试样分别进行单次和疲劳弯曲试验研究.结果表明,墨水浓度越低,制备出的银薄膜孔隙率越高,初始电阻越大,同时孔隙作为缺陷使薄膜抗弯曲性能变差,但是增大的孔隙率能够有效地抑制薄膜疲劳损伤演化,使其弯曲疲劳稳定性提高....

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Published in华东理工大学学报（自然科学版） Vol. 47; no. 3; pp. 354 - 360
Main Authors 李超, 孙权, 秦宗慧, 汤成莉, 鹿业波, 陈建钧
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 华东理工大学机械与动力工程学院,上海 200237%嘉兴学院机电工程学院,浙江嘉兴 314001 30.06.2021
Subjects
曲率半径
弯曲疲劳
试验机
孔隙率
柔性电子
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Summary:TH114; 柔性电子产品在使用过程中不可避免地会受到拉伸、弯曲等多种形式的复杂变形,在长时间工作中疲劳成为产品失效的重要模式之一.针对柔性电子导线可靠性问题,通过原位疲劳测试平台对导线弯曲疲劳损伤行为进行研究.在弯曲测试过程中,通过理论分析定量确定薄膜最小曲率半径与挤压位移的关系,并利用有限元仿真及实验验证了推论的正确性,然后对试样分别进行单次和疲劳弯曲试验研究.结果表明,墨水浓度越低,制备出的银薄膜孔隙率越高,初始电阻越大,同时孔隙作为缺陷使薄膜抗弯曲性能变差,但是增大的孔隙率能够有效地抑制薄膜疲劳损伤演化,使其弯曲疲劳稳定性提高.
ISSN:1006-3080
DOI:10.14135/j.cnki.1006-3080.20200212004