温度诱导液晶相控光束质量恶化分析

O436.4; 液晶光学相控阵是下一代光束控制技术的核心器件,提高其耐受激光阈值是当前研究的热点之一.针对较高功率激光入射场景下评测液晶光学相控阵相位调制性能恶化程度的问题,本文基于传统四分之一波片法,实现快速、直接测量液晶对入射激光的相位调制量.验证试验发现,当中心温度为33℃时,对应的最大畸变相位为3.6 rad.同时,本文基于该实测相位调制结果,研究出射光的光束质量恶化过程.分析结果表明:当液晶移相器的中心温度变化小于10℃时,光束质量恶化小于20％....

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Published in光电工程 Vol. 48; no. 6; pp. 21 - 28
Main Authors 黄帆, 汪相如, 贺晓娴, 张梦雪, 王影丽, 郭弘扬, 胡婕, 马浩统
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 电子科技大学光电科学与工程学院,四川 成都 611731%中国科学院光电技术研究所,四川 成都 610209 15.06.2021
Subjects
液晶光学相控阵
高功率激光
光束质量
相位恶化
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ISSN1003-501X
DOI10.12086/oee.2021.200463

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Summary:O436.4; 液晶光学相控阵是下一代光束控制技术的核心器件,提高其耐受激光阈值是当前研究的热点之一.针对较高功率激光入射场景下评测液晶光学相控阵相位调制性能恶化程度的问题,本文基于传统四分之一波片法,实现快速、直接测量液晶对入射激光的相位调制量.验证试验发现,当中心温度为33℃时,对应的最大畸变相位为3.6 rad.同时,本文基于该实测相位调制结果,研究出射光的光束质量恶化过程.分析结果表明:当液晶移相器的中心温度变化小于10℃时,光束质量恶化小于20％.
ISSN:1003-501X
DOI:10.12086/oee.2021.200463