热电离质谱全蒸发技术在钚同位素丰度测量中的应用

O657.63; 对影响热电离质谱全蒸发测量的主要因素进行研究,包括点样量、同质异位素的干扰等,并将全蒸发技术与传统测量技术测量IRMM-086的结果进行对比.结果 表明,全蒸发技术可在更少的点样量下获得比传统测量法更佳的测量精度,当同位素比值大于10-4时,结果与标准值偏差小于2σ.在50 ngIRMM-086点样量下,全蒸发测量的240 pu/239Pu、241pu/239pu、242pu/239pu相对标准偏差分别为0.006 8％、0.50％和0.83％.对于钚同位素比值分析,全蒸发测量技术可直接获得高精度、高准确度的测量结果....

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Published in质谱学报 Vol. 42; no. 3; pp. 305 - 313
Main Authors 应浙聪, 熊超杰, 张丽华, 李辉波, 郝小娟
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 中国原子能科学研究院,北京 102413 01.05.2021
Subjects
同位素比值
钚
全蒸发技术
热电离质谱(TIMS)
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Summary:O657.63; 对影响热电离质谱全蒸发测量的主要因素进行研究,包括点样量、同质异位素的干扰等,并将全蒸发技术与传统测量技术测量IRMM-086的结果进行对比.结果 表明,全蒸发技术可在更少的点样量下获得比传统测量法更佳的测量精度,当同位素比值大于10-4时,结果与标准值偏差小于2σ.在50 ngIRMM-086点样量下,全蒸发测量的240 pu/239Pu、241pu/239pu、242pu/239pu相对标准偏差分别为0.006 8％、0.50％和0.83％.对于钚同位素比值分析,全蒸发测量技术可直接获得高精度、高准确度的测量结果.
ISSN:1004-2997
DOI:10.7538/zpxb.2020.0053