大口径光学元件瞬态波前检测

为瞬态测量大口径光学元件波前,提出一种基于斜入射结构的近红外反射式错位点衍射干涉原理的Φ400 mm瞬态波前检测方法。该方案将待测光分成两束互相错位的参考光与测试光,从而在干涉图中引入高线性载频,采集到对比度良好的干涉图后,利用傅里叶变换相位解调法从单幅干涉图中提取待测波前相位,实现瞬态波前动态测量。实验光路总长近20 m,极易受气流的影响,且由于气流干扰随时间变化,该系统本身可以看作是大口径光学元件瞬态波前发生与检测装置。测试结果与SID4波前传感器比较,波前均方根(RMS)小于1/50 λ,可知所提方法可以实现大口径瞬态波前的高分辨率与高精度检测。...

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Published inGuang Dian Gong Cheng = Opto-Electronic Engineering Vol. 45; no. 1; pp. 170536 - 62
Main Authors 孟诗, 陈磊, 朱文华, 孙沁园, 张瑞 / Meng Shi, Chen, Lei, Zhu, Wenhua, Sun Qinyuan, Zhang, Rui
Format Journal Article
LanguageChinese
English
Published Chengdu Editorial Office of Opto-Electronic Advances 01.01.2018
南京理工大学电子工程与光电技术学院,江苏 南京,210094
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ISSN1003-501X
DOI10.12086/oee.2018.170536

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Summary:为瞬态测量大口径光学元件波前,提出一种基于斜入射结构的近红外反射式错位点衍射干涉原理的Φ400 mm瞬态波前检测方法。该方案将待测光分成两束互相错位的参考光与测试光,从而在干涉图中引入高线性载频,采集到对比度良好的干涉图后,利用傅里叶变换相位解调法从单幅干涉图中提取待测波前相位,实现瞬态波前动态测量。实验光路总长近20 m,极易受气流的影响,且由于气流干扰随时间变化,该系统本身可以看作是大口径光学元件瞬态波前发生与检测装置。测试结果与SID4波前传感器比较,波前均方根(RMS)小于1/50 λ,可知所提方法可以实现大口径瞬态波前的高分辨率与高精度检测。
Bibliography:ObjectType-Article-1
SourceType-Scholarly Journals-1
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content type line 14
ISSN:1003-501X
DOI:10.12086/oee.2018.170536