APA (7th ed.) Citation

곽병호, 최경주, Kwak, B., & Cheoi, K. (2019). 기준패턴과 증착패턴의 동시 측정을 통한 OLED 공정 검사 방법. (사)디지털산업정보학회 논문지, 15(4), 15(4), 63-70.

Chicago Style (17th ed.) Citation

곽병호, 최경주, Byeongho Kwak, and Kyungjoo Cheoi. "기준패턴과 증착패턴의 동시 측정을 통한 OLED 공정 검사 방법." (사)디지털산업정보학회 논문지, 15(4) 15, no. 4 (2019): 63-70.

MLA (9th ed.) Citation

곽병호, et al. "기준패턴과 증착패턴의 동시 측정을 통한 OLED 공정 검사 방법." (사)디지털산업정보학회 논문지, 15(4), vol. 15, no. 4, 2019, pp. 63-70.