逐次最尤推定法とベイズの統計量推論を用いた異常信号の検出法

逐次最尤推定法とベイズの統計量推論を用いたプロセス異常信号の検出法を開発した.本手法は, 逐次最尤推定法によりプロセス信号のモデル推定残差列を求め, この残差列からベイズの統計量推論を用いて異常の判定を行う. 本手法を直鎖状低密度ポリエチレン製造装置触媒供給系での触媒流量異常信号の検出に適用した.その結果, 本手法は異常信号の検出に有効であることがわかった....

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Published in化学工学論文集 Vol. 21; no. 4; pp. 703 - 706
Main Authors 竹内, 健史, 花熊, 克友, 中矢, 一豊, 佐々木, 隆志, 中西, 英二
Format Journal Article
LanguageJapanese
Published 公益社団法人 化学工学会 10.07.1995
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ISSN0386-216X
1349-9203
DOI10.1252/kakoronbunshu.21.703

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Summary:逐次最尤推定法とベイズの統計量推論を用いたプロセス異常信号の検出法を開発した.本手法は, 逐次最尤推定法によりプロセス信号のモデル推定残差列を求め, この残差列からベイズの統計量推論を用いて異常の判定を行う. 本手法を直鎖状低密度ポリエチレン製造装置触媒供給系での触媒流量異常信号の検出に適用した.その結果, 本手法は異常信号の検出に有効であることがわかった.
ISSN:0386-216X
1349-9203
DOI:10.1252/kakoronbunshu.21.703