ナノビーム電子線を用いた極微構造解析とイメージング(1)

Saved in:
Bibliographic Details
Published in電子顕微鏡 Vol. 34; no. 2; pp. 135 - 140
Main Authors 田中, 信夫, 弘津, 禎彦
Format Journal Article
LanguageJapanese
Published 公益社団法人　日本顕微鏡学会 31.07.1999
Subjects
ナノビーム回折(NBD)
ナノビーム電子線
ナノ回折
収束電子回折(CBED)
走査透過電子顕微鏡(STEM)
Online AccessGet full text
ISSN0417-0326
DOI10.11410/kenbikyo1950.34.135

Cover

More Information
ISSN:0417-0326
DOI:10.11410/kenbikyo1950.34.135