シリコンナノピンセットとマイクロ流体デバイスによるDNA放射線損傷のリアルタイム測定

放射線癌治療をより効果的にするため，放射線によるDNA損傷の機構の解明が必要である．本研究ではMEMS ピンセットを道具として，X線が与えるDNA損傷を実時間で測定することを可能にした．DNA分子束を捕獲したMEMSピンセットの共振周波数を測り，DNA分子束の硬さを判別できる．DNA分子の損傷はその硬さに影響するため，分子束の硬さの変化は損傷の進行程度を示す．また，リアルにより近づくために，マイクロ流体デバイスを用い，X線によるDNA束の損傷を水中で測定できた．本研究はDNA損傷測定の新手法であり，放射線治療を改善する可能がある．...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in生産研究 Vol. 66; no. 3; pp. 285 - 290
Main Authors コラール, ドミニク, 榎本, 敦, ラフィト, ニコラ, ジャラベール, ロラン, 久米村, 百子, 宮川, 清, 藤田, 博之, 江, 柏村, ペレト, グレグア
Format Journal Article
LanguageEnglish
Published 東京大学生産技術研究所 2014
Online AccessGet full text
ISSN0037-105X
1881-2058
DOI10.11188/seisankenkyu.66.285

Cover

More Information
Summary:放射線癌治療をより効果的にするため，放射線によるDNA損傷の機構の解明が必要である．本研究ではMEMS ピンセットを道具として，X線が与えるDNA損傷を実時間で測定することを可能にした．DNA分子束を捕獲したMEMSピンセットの共振周波数を測り，DNA分子束の硬さを判別できる．DNA分子の損傷はその硬さに影響するため，分子束の硬さの変化は損傷の進行程度を示す．また，リアルにより近づくために，マイクロ流体デバイスを用い，X線によるDNA束の損傷を水中で測定できた．本研究はDNA損傷測定の新手法であり，放射線治療を改善する可能がある．
ISSN:0037-105X
1881-2058
DOI:10.11188/seisankenkyu.66.285