ULSIデバイス作製プロセスにおけるプラズマ-固体表面相互作用
プラズマにより0.1μmレベルの微小な形状を高精度でエッチングするためには,プラズマにさらされたウエハー表面での物理化学現象,例えばプラズマ中で生成された活性種やイオンの表画での吸着・輸送・及応などに関する情報が不可欠となる.本稿では,ウエハー表面に入射する反応粒子,表面での笈1芯,および微細パターン内での粒子の輸送と反応過程に関するこれまでの情報をもとに,さらにエッチングの加工形状シミュレーションを通して,低圧力・高密度プラズマにさらされたウエハー表面に関する理解の現状と課題について解説する.具体例として,エッチングの微視的な均一性,特にエッチング速度や形状の微細パターンの幾何学的構造への依...
Saved in:
Published in | 応用物理 Vol. 68; no. 5; pp. 513 - 519 |
---|---|
Main Author | |
Format | Journal Article |
Language | Japanese |
Published |
公益社団法人 応用物理学会
1999
|
Online Access | Get full text |
ISSN | 0369-8009 2188-2290 |
DOI | 10.11470/oubutsu1932.68.513 |
Cover
Summary: | プラズマにより0.1μmレベルの微小な形状を高精度でエッチングするためには,プラズマにさらされたウエハー表面での物理化学現象,例えばプラズマ中で生成された活性種やイオンの表画での吸着・輸送・及応などに関する情報が不可欠となる.本稿では,ウエハー表面に入射する反応粒子,表面での笈1芯,および微細パターン内での粒子の輸送と反応過程に関するこれまでの情報をもとに,さらにエッチングの加工形状シミュレーションを通して,低圧力・高密度プラズマにさらされたウエハー表面に関する理解の現状と課題について解説する.具体例として,エッチングの微視的な均一性,特にエッチング速度や形状の微細パターンの幾何学的構造への依存性に焦点を当てる. |
---|---|
ISSN: | 0369-8009 2188-2290 |
DOI: | 10.11470/oubutsu1932.68.513 |