金属ガラスの電子線局所構造解析

近年の電子顕微鏡技術の飛躍的な向上により，収差補正高分解能像法やナノ電子回折法を利用してアモルファス物質の局所構造情報を得ることが可能となった．さらに，エネルギーフィルター電子回折法を用いた精密な電子線動径分布解析も可能となっている．このため，金属ガラスなどのアモルファス物質中の同一領域について，局所構造解析と平均構造解析の双方を同時に行える時代となった．本稿では，それらの手法について解説したのち，実際にPdおよびFe系金属ガラスに対して応用した例について紹介する．...

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Bibliographic Details
Published in顕微鏡 Vol. 45; no. 4; pp. 250 - 256
Main Authors 弘津, 禎彦, 平田, 秋彦
Format Journal Article
LanguageJapanese
Published 公益社団法人 日本顕微鏡学会 30.12.2010
Subjects
ナノ電子回折法
収差補正高分解能法
金属ガラス
電子線動径分布解析
電子線局所構造解析
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ISSN1349-0958
2434-2386
DOI10.11410/kenbikyo.45.4_250

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Summary:近年の電子顕微鏡技術の飛躍的な向上により，収差補正高分解能像法やナノ電子回折法を利用してアモルファス物質の局所構造情報を得ることが可能となった．さらに，エネルギーフィルター電子回折法を用いた精密な電子線動径分布解析も可能となっている．このため，金属ガラスなどのアモルファス物質中の同一領域について，局所構造解析と平均構造解析の双方を同時に行える時代となった．本稿では，それらの手法について解説したのち，実際にPdおよびFe系金属ガラスに対して応用した例について紹介する．
ISSN:1349-0958
2434-2386
DOI:10.11410/kenbikyo.45.4_250