セラミックス材料評価における透過型電子顕微鏡法の活用

透過電子顕微鏡法はナノメートル領域のセラミックス材料評価において高い空間分解能と時間分解能を併せ持つ極めて有効な手法である．本稿では，セラミックス材料の特性を支配する電気特性と微細構造の評価技術において，透過型電子顕微鏡法を強誘電ドメイン観察，粒界偏析分析，及び焼結過程の動的観察などに活用した例を紹介する．...

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Published in顕微鏡 Vol. 44; no. 1; pp. 7 - 10
Main Authors 本吉, 康弘, 松元, 隆夫
Format Journal Article
LanguageJapanese
Published 公益社団法人 日本顕微鏡学会 30.03.2009
Subjects
セラミックス
ドメイン
分極
強誘電体
粒界
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ISSN1349-0958
2434-2386
DOI10.11410/kenbikyo.44.1_7

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Summary:透過電子顕微鏡法はナノメートル領域のセラミックス材料評価において高い空間分解能と時間分解能を併せ持つ極めて有効な手法である．本稿では，セラミックス材料の特性を支配する電気特性と微細構造の評価技術において，透過型電子顕微鏡法を強誘電ドメイン観察，粒界偏析分析，及び焼結過程の動的観察などに活用した例を紹介する．
ISSN:1349-0958
2434-2386
DOI:10.11410/kenbikyo.44.1_7