沈降法による粒度測定におけるRI-X線透過法の利用

液相沈降法による粉体粒度の測定にRI-X線透過法を応用し, その適用性について検討した。w'を次式で定義し w'= (μ/ρ) l/ (μ/ρ) s-ρl/ρs ここで (μ/ρ) はX線吸収係数, ρは密度, サフィックスlとsはそれぞれ分散媒と試料を表す。 C0'を分散媒中の試料の重量含有率とすると, 測定精度は主としてC0'w'および線源強度によって決定される。w'値の大きな線源としては55Fe, 238Pu, 109Cdなどがあるが, 最適なX線透過距離LoptはμlLopt2/ (1+C0'w') の関係...

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Published inRADIOISOTOPES Vol. 25; no. 9; pp. 534 - 539
Main Authors 古田, 富彦, 松井, 佳子, 宮川, 草児
Format Journal Article
LanguageJapanese
Published 公益社団法人 日本アイソトープ協会 01.09.1976
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ISSN0033-8303
1884-4111
DOI10.3769/radioisotopes.25.9_534

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Abstract 液相沈降法による粉体粒度の測定にRI-X線透過法を応用し, その適用性について検討した。w'を次式で定義し w'= (μ/ρ) l/ (μ/ρ) s-ρl/ρs ここで (μ/ρ) はX線吸収係数, ρは密度, サフィックスlとsはそれぞれ分散媒と試料を表す。 C0'を分散媒中の試料の重量含有率とすると, 測定精度は主としてC0'w'および線源強度によって決定される。w'値の大きな線源としては55Fe, 238Pu, 109Cdなどがあるが, 最適なX線透過距離LoptはμlLopt2/ (1+C0'w') の関係式で決まるので, 55Feのようなμlのあまり大きな線源は適当ではない。 109Cdを用いて, PbO2など原子番号の高いものから, フラィアッシュ, Al2O3など原子番号の低いものまでの粒度分布が測定された。
AbstractList 液相沈降法による粉体粒度の測定にRI-X線透過法を応用し, その適用性について検討した。w'を次式で定義し w'= (μ/ρ) l/ (μ/ρ) s-ρl/ρs ここで (μ/ρ) はX線吸収係数, ρは密度, サフィックスlとsはそれぞれ分散媒と試料を表す。 C0'を分散媒中の試料の重量含有率とすると, 測定精度は主としてC0'w'および線源強度によって決定される。w'値の大きな線源としては55Fe, 238Pu, 109Cdなどがあるが, 最適なX線透過距離LoptはμlLopt2/ (1+C0'w') の関係式で決まるので, 55Feのようなμlのあまり大きな線源は適当ではない。 109Cdを用いて, PbO2など原子番号の高いものから, フラィアッシュ, Al2O3など原子番号の低いものまでの粒度分布が測定された。
Author 古田, 富彦
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References 5) 松井佳子, 古田富彦: 第12回理工学における同位元素研究発表会, 要旨集, p. 20p-II-1 (1975
1) 粉体粒度測定法, 粉体工学研究会編, 養賢堂 (1965
6) 妹尾宗明, 立川登, 富永洋, 榎本茂正: Radioisotopes, 24, 455 (1975
4) T. Allen and L. Svarovsky: Int. Conf. and Exhibition on Industrial Measurement and Control by Radiation Techniques, TEE Conf. Pub., No.84, 7-15 (1972
2) Sedi-Graph 5000, Micromeritics Instrument Corp. (島津製作所) ; Oliver, J. P. , Hickin, G. K. , Clyde Orr, Jr. : Powder Technol. , 4, 257-63 (1970/71) ; サブシーブ域における自動粒度測定, Clyde Orr, Jr. 著, 増田弘昭, 井伊谷鋼一共訳, 粉体工学研究会誌, Vol. 7, 臨時号 (1970
7) 井伊谷鋼一編: 粉体工業ハンドブヅク, 12-41, 朝倉書店 (1972
3) T. Allen and L. Svarovsky: J. Phys., E. (London) , 3, 458 (1970
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