沈降法による粒度測定におけるRI-X線透過法の利用

• Published in: RADIOISOTOPES Vol. 25; no. 9; pp. 534 - 539
• Main Authors: 古田, 富彦, 松井, 佳子, 宮川, 草児
• Format: Journal Article
• Language: Japanese
• Published: 公益社団法人 日本アイソトープ協会 01.09.1976
• ISSN: 0033-8303; 1884-4111
• DOI: 10.3769/radioisotopes.25.9_534

液相沈降法による粉体粒度の測定にRI-X線透過法を応用し, その適用性について検討した。w'を次式で定義し w'= (μ/ρ) l/ (μ/ρ) s-ρl/ρs ここで (μ/ρ) はX線吸収係数, ρは密度, サフィックスlとsはそれぞれ分散媒と試料を表す。 C0'を分散媒中の試料の重量含有率とすると, 測定精度は主としてC0'w'および線源強度によって決定される。w'値の大きな線源としては55Fe, 238Pu, 109Cdなどがあるが, 最適なX線透過距離LoptはμlLopt2/ (1+C0'w') の関係式で決まるので, 55Feのようなμlのあまり大きな線源は適当ではない。 109Cdを用いて, PbO2など原子番号の高いものから, フラィアッシュ, Al2O3など原子番号の低いものまでの粒度分布が測定された。