80 kV-1 MV電子顕微鏡を用いた不均一触媒材料の研究

不均一触媒材料において，ナノ構造に起因する触媒反応メカニズムを正しく理解するためには，触媒ナノ粒子の結晶構造，触媒ナノ粒子と酸化物粒子担体界面などの原子レベルの構造に加えて，担体表面上の触媒ナノ粒子の分散性や担体のサイズ・形態などのサブミクロンオーダーの構造まで正確に評価・測定する必要がある．本研究では，このような触媒構造評価のために透過電子のエネルギーを80 keV–1 MeVと変えた電子顕微鏡観察法を紹介する．...

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Published in顕微鏡 Vol. 46; no. 1; pp. 11 - 15
Main Authors 吉田, 健太, 荒井, 重勇, 齋藤, 晃, 田中, 信夫
Format Journal Article
LanguageJapanese
Published 公益社団法人 日本顕微鏡学会 30.03.2011
Subjects
3次元
その場観察
球面収差補正
触媒
超高圧電子顕微鏡
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ISSN1349-0958
2434-2386
DOI10.11410/kenbikyo.46.1_11

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Summary:不均一触媒材料において，ナノ構造に起因する触媒反応メカニズムを正しく理解するためには，触媒ナノ粒子の結晶構造，触媒ナノ粒子と酸化物粒子担体界面などの原子レベルの構造に加えて，担体表面上の触媒ナノ粒子の分散性や担体のサイズ・形態などのサブミクロンオーダーの構造まで正確に評価・測定する必要がある．本研究では，このような触媒構造評価のために透過電子のエネルギーを80 keV–1 MeVと変えた電子顕微鏡観察法を紹介する．
ISSN:1349-0958
2434-2386
DOI:10.11410/kenbikyo.46.1_11