国際宇宙ステーションでの結晶成長実験に関する溶融InxGa1-xSbの粘度測定

本研究では，混晶半導体であるInxGa1-xSb (x =0, 0.2, 0.4, 1.0) 融液の粘度を回転振動法により測定した．粘度は結晶成長の数値計算に必須のパラメータの1つであり，数値計算の精度向上には粘度の組成依存性が必要となる．測定の結果，InxGa1-xSbにおいてもInSbやGaSbと同様に粘度はアレニウスの直線性を示すことが示された．また，InxGa1-xSbの粘度はGaSb，InSbの間の値となった．本研究は，国際宇宙ステーションで行われる混晶半導体結晶成長実験に関する数値計算のパラメータとして使用することを目的としている．...

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Bibliographic Details
Published in熱物性 Vol. 27; no. 4; pp. 152 - 163
Main Authors 阪田, 薫穂, 向井, 碧, 稲富, 裕光, 石川, 毅彦, 早川, 泰弘
Format Journal Article
LanguageJapanese
Published 日本熱物性学会 2015
Subjects
gallium antimonide
indium antimonide
indium gallium antimonide
molten state
viscosity
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Summary:本研究では，混晶半導体であるInxGa1-xSb (x =0, 0.2, 0.4, 1.0) 融液の粘度を回転振動法により測定した．粘度は結晶成長の数値計算に必須のパラメータの1つであり，数値計算の精度向上には粘度の組成依存性が必要となる．測定の結果，InxGa1-xSbにおいてもInSbやGaSbと同様に粘度はアレニウスの直線性を示すことが示された．また，InxGa1-xSbの粘度はGaSb，InSbの間の値となった．本研究は，国際宇宙ステーションで行われる混晶半導体結晶成長実験に関する数値計算のパラメータとして使用することを目的としている．
ISSN:0913-946X
1881-414X
DOI:10.2963/jjtp.27.152