Deux nouvelles méthodes complémentaires pour l'extraction optimale des paramètres électriques des jonctions

• Published in: Revue des énergies renouvelables Vol. 13; no. 2; pp. 199 - 212
• Main Authors: MALAOUI, A, ELMANSOURI, A
• Format: Journal Article
• Language: French; English
• Published: Alger Centre de développement des énergies renouvelables 01.06.2010; Renewable Energy Development Center (CDER)
• Subjects: algorithme de levenberg marquadt; caractéristique i-v; Diodes; Electronique; Electronique des semiconducteurs. Microélectronique. Optoélectronique. Dispositifs à l'état solide; modèle polynomial; méthode numérique; paramètres électriques d’une diode; Sciences appliquees; Sciences exactes et technologie; Méthode numérique; Caractéristique I-V; Algorithme de Levenberg Marquadt; Système équation; Diode barrière Schottky; Paramètres électriques d'une diode; Méthode Newton Raphson; Modèle polynomial; Algorithme de Levenberg Marquardt; Représentation graphique; Etude comparative; Diode jonction; Extraction paramètre
• ISSN: 1112-2242; 2716-8247

- Dans ce papier, deux nouvelles méthodes sont développées afin d’extraire les paramètres électriques , du modèle à une exponentielle d’une jonction. La première est basée sur la comparaison et l’égalisation du modèle analytique d’une diode, et un modèle polynomial équivalent. Les dérivées des deux modèles, à l’origine des tensions, permettent de générer un système d’équations qui exprime les paramètres électriques en fonction des coefficients du modèle polynomial. La deuxième méthode développée, est articulée sur l’algorithme de Levenberg Marquardt, en utilisant une approche de la détermination et la pondération de la matrice Hessienne, à partir du modèle exponentiel. Les deux méthodes sont testées, à l’aide des programmes développés avec Matlab, sur deux bases de mesures I-V, réalisées par une diode de Schottky. Des comparaisons, de ces deux approches proposées, ont été effectuées la méthode numérique de Newton-Raphson et une autre graphique. Les résultats obtenus sont discutés sur le plan de la rapidité, la précision et l’ordre des erreurs statistiques définis. Ils montrent les limites de l’utilisation de ces deux approches et l’intérêt qu’elles présentent.