Estudio de superficies usando un microscopio de efecto túnel (STM)

• Published in: Ingeniería e investigación Vol. 29; no. 3; pp. 121 - 127
• Main Authors: Ávila Bernal, Alba Graciela, Bonilla Osorio, Ruy Sebastián
• Format: Journal Article
• Language: Portuguese; Spanish; English
• Published: Facultad de Ingeniería, Universidad Nacional de Colombia 2009; Universidad Nacional de Colombia
• Subjects: bias; control PI; deriva; drift; efecto túnel; ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY; histéresis; hysteresis; PI control; piezoelectric; piezoeléctrico; STM; tunnel effect; control PI; PI control; histéresis; piezoeléctrico; tunnel effect; bias; efecto túnel; deriva; STM; piezoelectric; hysteresis; drift
• ISSN: 0120-5609; 2248-8723; 2248-8723

Los microscopios de barrido se han convertido en las manos y los "ojos" de experimentadores de nuestro siglo, son herramientas necesarias en los laboratorios de educación e investigación para la caracterización a nanoescalas. El presente artículo presenta las modificaciones en la implementación electrónica (caracterización de los piezoeléctricos y sistema de barrido) y mecánica (diseño de un sistema de antivibración) de un microscopio de barrido de efecto túnel que han permitido visualización y modificación de superficies a nanoescala. Se describe una metodología para la correcta visualización y caracterización de superficies usando el instrumento implementado, alcanzando la cuantificación bidimensional de características de hasta 1300nm², con resolución ~15nm. Esta metodología, determinada experimentalmente, tiene en cuenta parámetros críticos para la estabilización de la corriente túnel, como lo son la velocidad de barrido y las geometrías y dimensiones de las agujas del microscopio. La versatilidad del microscopio permite modificar y visualizar los defectos introducidos en muestras de HOPG al aplicar voltajes entre la punta del microscopio y la muestra. Los resultados aquí descritos permiten presentar fácilmente los conceptos de barrido topográfico y litografía.