Dampak Test-Driven Development pada Kualitas Kode

Pengembang perangkat lunak sekarang dituntut untuk memiliki perangkat lunak yang baik. Salah satu faktor yang membuat perangkat lunak tersebut baik adalah bebas dari berbagai macam bug dan program mudah untuk dirawat. Salah satu cara untuk mendapatkan hal tersebut adalah menggunakan Test-Driven Deve...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published inJEPIN (Jurnal Edukasi dan Penelitian Informatika) Vol. 9; no. 3; p. 371
Main Authors Ilmi, Muhammad Iqbal Naufal, Aminudin, Aminudin, Sari, Zamah
Format Journal Article
LanguageEnglish
Published 22.12.2023
Online AccessGet full text

Cover

Loading…
More Information
Summary:Pengembang perangkat lunak sekarang dituntut untuk memiliki perangkat lunak yang baik. Salah satu faktor yang membuat perangkat lunak tersebut baik adalah bebas dari berbagai macam bug dan program mudah untuk dirawat. Salah satu cara untuk mendapatkan hal tersebut adalah menggunakan Test-Driven Development (TDD). TDD adalah metode dengan menuliskan pengujian sebelum kode program. Dengan TDD diharapkan memiliki kualitas kode yang baik dan bebas dari berbagai macam bug. Karena hal tersebut, pada paper ini akan diteliti tentang dampak yang terjadi ketika menggunakan TDD dalam nilai-nilai seperti code coverage, halstead volume dan maintainability index. Hasilnya didapatkan bahwa dengan menggunakan TDD dapat meningkatkan matriks pada indikator tersebut karena pengembang memiliki kesempatan untuk berfokus pada penulisan test di awal sebagai awal siklus dan fokus pada akhir siklus. Berdasarkan perhitungan yang dilakukan, didapatkan hasil dengan penggunaan TDD dapat meningkatkan nilai code coverage sampai lebih dari 100%, cyclomatic complexity sebesar 15.78%, halstead volume sebesar 35% dan maintainability index sebesar 11%. Hal tersebut terjadi karena kode lebih banyak yang dijangkau oleh pengujian dan setiap siklus diakhiri dengan refactor sehingga program akan diperbaiki setiap siklus sehingga kualitas kode menjadi lebih baik.
ISSN:2460-0741
2548-9364
DOI:10.26418/jp.v9i3.66815