钱晓霞 & 李伟华. (2013). MEMS表面加工中材料层厚度电学测试结构. 南京信息工程大学学报, 6, 522-526.
Chicago Style (17th ed.) Citation钱晓霞 and 李伟华. "MEMS表面加工中材料层厚度电学测试结构." 南京信息工程大学学报 6 (2013): 522-526.
MLA (9th ed.) Citation钱晓霞 and 李伟华. "MEMS表面加工中材料层厚度电学测试结构." 南京信息工程大学学报, 6, 2013, pp. 522-526.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.