在大量同质异位素干扰下的同位素稀释质谱法测定^173Lu和^174Lu

当2种以上元素在热表面电离质谱计（TIMS）蒸发带表面蒸发时，蒸气中各元素的比例随着蒸发带加热电流的变化而变化，相应质量数处离子流的比值也随之发生变化。据此原理，建立了大量同质异位素干扰下的同位素分析方法。该方法的可靠性在同质异位素干扰量为1000倍的情况下得到了实验验证。结合该方法和热表面电离同位素稀释质谱法（ID-TIMS）分析了大量^173Yb和^174Yb干扰下放射性核素^173Lu和^174Lu在溶液中的浓度^173Lu和^174Lu合成标准不确定度分别为0．45％和1．1％。...

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Published inHé huàxué yŭ fàngshè huàxué Vol. 29; no. 1; pp. 27 - 31
Main Author 徐江 朱凤蓉 李志明 王长海 翟利华 黄能斌 万可友 任向军
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 西北核技术研究所,西安,710024 2007
Subjects
173Lu
174Lu热表面电离同位素稀释质谱法（ID-TIMS）
同质异位素干扰
173Lu
174Lu
热表面电离同位素稀释质谱法(ID-TIMS)
同质异位素干扰
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ISSN0253-9950
DOI10.3969/j.issn.0253-9950.2007.01.005

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Summary:当2种以上元素在热表面电离质谱计（TIMS）蒸发带表面蒸发时，蒸气中各元素的比例随着蒸发带加热电流的变化而变化，相应质量数处离子流的比值也随之发生变化。据此原理，建立了大量同质异位素干扰下的同位素分析方法。该方法的可靠性在同质异位素干扰量为1000倍的情况下得到了实验验证。结合该方法和热表面电离同位素稀释质谱法（ID-TIMS）分析了大量^173Yb和^174Yb干扰下放射性核素^173Lu和^174Lu在溶液中的浓度^173Lu和^174Lu合成标准不确定度分别为0．45％和1．1％。
Bibliography:173 Lu
O657.6
isobaric interference;^173 Lu; ^174 Lu; isotope dilution thermal ionization mass spectrometry （ID-TIMS）
isobaric interference
174 Lu
11-2045/TL
isotope dilution thermal ionization mass spectrometry （ID-TIMS）
ISSN:0253-9950
DOI:10.3969/j.issn.0253-9950.2007.01.005