基于相干渡越辐射的束团长度测量研究

电子束团长度是束流诊断中的重要参数，基于相干渡越辐射（Coherent TransitionRadiation，CTR）的测量方法是一种简单易行的高时间分辨率测量方法。本文调研并分析了不同电子束团长度测量方法的优缺点，选择基于CTR方法作为主要研究方向，主要针对上海深紫外自由电子激光实验装置（Shanghai Deep Ultra-Violet Free Electron Laser,SDUV-FEL）和X射线自由电子激光试验装置（Shanghai X-ray Free Electron Lase LSXFEL）进行了实验方案设计和模拟分析。结果表明，通过合理的参数选择和方案优化，用该方法可对...

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Published in核技术 Vol. 40; no. 1; pp. 6 - 11
Main Author 边宇 张文艳 刘波 王东
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 中国科学院大学 北京 100049%中国科学院上海应用物理研究所 嘉定园区 上海201800 2017
中国科学院上海应用物理研究所 嘉定园区 上海201800
Subjects
束团长度
束流诊断
相干渡越辐射
相干渡越辐射
Electron bunch length
Beam diagnostics
Coherent transition radiation
束团长度
束流诊断
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ISSN0253-3219
DOI10.11889/j.0253-3219.2017.hjs.40.010102

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Summary:电子束团长度是束流诊断中的重要参数，基于相干渡越辐射（Coherent TransitionRadiation，CTR）的测量方法是一种简单易行的高时间分辨率测量方法。本文调研并分析了不同电子束团长度测量方法的优缺点，选择基于CTR方法作为主要研究方向，主要针对上海深紫外自由电子激光实验装置（Shanghai Deep Ultra-Violet Free Electron Laser,SDUV-FEL）和X射线自由电子激光试验装置（Shanghai X-ray Free Electron Lase LSXFEL）进行了实验方案设计和模拟分析。结果表明，通过合理的参数选择和方案优化，用该方法可对飞秒至皮秒范围内的束团长度进行测量，时间分辨率能到达飞秒量级，满足SDUV-FEL的实验需求和SXFEL的工程需求。
Bibliography:BIAN Yu1,2, ZHANG Wenyan1, LIU Bo1, WANG Dong1 （1Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Jiading Campus, Shanghai 201800, China;2University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China）
31-1342/TL
Background： Longitudinal electron bunch length is an important parameter in accelerator beam diagnostics. It plays a significant role in single-pass free electron lasers, since the high-gain Free Electron Laser （FEL） process depends strongly on a high peak current of the electron bunches. Purpose： It is necessary to measure the electron bunch lengths in both Shanghai Deep Ultra-Violet Free Electron Laser （SDUV-FEL） and Shanghai X-ray Free Electron Laser （SXFEL）. Methods： In this paper, the advantages and disadvantages of three standard diagnostic tools for bunch length measurement are compared and a measuring system based on coherent transition radiation （CTR） for SDUV-FEL and SXFEL is designed and analyzed. Results： The simulation shows that the measuring system can measure the el
ISSN:0253-3219
DOI:10.11889/j.0253-3219.2017.hjs.40.010102