Multi-Elemental Analysis of ATHO-G Rhyolitic Glass (MPI-DING Reference Material) by Femtosecond and Nanosecond LA-ICP-MS: Evidence for Significant Heterogeneity of B, V, Zn, Mo, Sn, Sb, Cs, W, Pt and Pb at the Millimetre Scale

• Published in: Geostandards and geoanalytical research Vol. 34; no. 3; pp. 245 - 255
• Main Authors: Borisova, Anastassia Y., Freydier, Rémi, Polvé, Mireille, Jochum, Klaus Peter, Candaudap, Frederic
• Format: Journal Article
• Language: English
• Published: Oxford, UK Blackwell Publishing Ltd 01.09.2010
• Subjects: ATHO-G rhyolite glass; certified reference material; heterogeneity; hétérogénéité; LA-ICP-MS; laser femtoseconde proche infrarouge; matériau de référence certifié; MPI-DING series; Near-infrared femtosecond laser; série MPI-DING; verre rhyolitique ATHO-G
• ISSN: 1639-4488; 1751-908X
• DOI: 10.1111/j.1751-908X.2010.00077.x

This paper reports on the application of variants of LA‐ICP‐MS – including infrared femtosecond laser ablation (fs‐LA) inductively coupled plasma‐quadrupole mass spectrometry (ICP‐QMS) and nanosecond laser ablation (ns‐LA) coupled with single‐collector sector‐field (SF‐) ICP‐MS – to the in situ determination of trace elements in different splits of the reference material (RM) ATHO‐G (MPI‐DING). Analyses of the materials performed by fs‐ and ns‐LA‐ICP‐MS demonstrated the efficiency of the techniques with typical accuracy at a level of ≤ ± 20%. One ‘anomalous’ split, however, displayed a significant discrepancy from the reference concentrations for B, V, Zn, Mo, Sn, Sb, Cs, W and Pb. Three‐ to six‐fold enrichment of V, Mo, Cs and Pt relative to the reference contents in this split is likely to have been due to direct contact of the silicate melt with Pt crucible walls and ceramics. Boron, Zn, Sn, Sb, W and Pb depletion relative to the reference concentrations is probably due to siderophile element adsorption by the Pt walls and/or related to the formation of volatile‐depleted compositional cords during the preparation process. Our results imply that additional precautions should be taken against volatile/siderophile element heterogeneity in marginal/surface layers (≤ 10 mm) during the preparation of RMs by the fusion technique. Cet article rend compte de l’application de variantes de la technique LA‐ICP‐MS – y compris l’ablation laser infrarouge femtoseconde (fs‐LA) couplée à un spectromètre de masse quadrupolaire à source plasma à couplage inductif (ICP‐QMS) et l’ablation laser nanoseconde (ns‐LA) couplée avec un spectromètre de masse à secteur magnétique simple collecteur à source plasma à couplage inductif (SF‐) ICP‐MS – pour la détermination in situ des éléments traces dans différents fragments du matériau de référence ATHO‐G (MPI‐DING). Les analyses des matériaux effectués par fs et ns‐LA‐ICP‐MS ont démontré l’efficacité de ces techniques avec une précision typique ≤ ± 20%. Cependant un fragment anormal a montré un écart significatif par rapport aux concentrations de référence en B, V, Zn, Mo, Sn, Sb, Cs, Pb et W. L’enrichissement trois à six fois supérieurs en V, Mo, Cs et Pt de ce fragment par rapport au contenu de référence est susceptible d’être du à un contact direct du liquide silicaté avec les parois du creuset en platine et avec la céramique. L’appauvrissement en B, Zn, Sn, Sb, W et Pb par rapport aux concentrations de référence est probablement due à l’adsorption des éléments sidérophiles par les parois en platine et/ou reliés à la formation de « cordes » compositionnelles appauvris en volatils au cours du processus de préparation. Nos résultats impliquent que des précautions supplémentaires doivent être prises contre la possible formation d’hétérogénéités en éléments volatils et sidérophiles au niveau des couches marginales de surface (≤ 10 mm) lors de la préparation de matériaux de référence par la technique de fusion.