基于希尔伯特变换和功率谱估计的薄缺陷厚度太赫兹检测

TH744; 提出将希尔伯特变换和功率谱估计相结合的光谱分析算法,对太赫兹反射时域波形进行处理,并将该算法应用于太赫兹时域光谱成像,将缺陷厚度和图像灰度关联,实现同时对玻璃纤维层压板内部缺陷厚度、位置和形状的成像检测.实验结果表明:将多重信号分类谱估计、自回归谱估计和希尔伯特变换结合时,能成功区分厚度为0.08 mm缺陷上下表面反射脉冲,反射脉冲的时间分辨率小于0.5 ps,缺陷厚度的检测误差不高于0.03 mm....

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Published in红外与毫米波学报 Vol. 41; no. 3; pp. 589 - 596
Main Authors 王洁, 谭冰冲, 陶星竹, 徐成城, 常天英, 崔洪亮, 张瑾
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 吉林大学仪器科学与电气工程学院,吉林长春130061%吉林大学仪器科学与电气工程学院,吉林长春130061 2022
中国科学院重庆绿色智能技术研究院,重庆400714
Subjects
太赫兹时域光谱
厚度检测
希尔伯特变换
功率谱估计
玻璃纤维层压板
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Summary:TH744; 提出将希尔伯特变换和功率谱估计相结合的光谱分析算法,对太赫兹反射时域波形进行处理,并将该算法应用于太赫兹时域光谱成像,将缺陷厚度和图像灰度关联,实现同时对玻璃纤维层压板内部缺陷厚度、位置和形状的成像检测.实验结果表明:将多重信号分类谱估计、自回归谱估计和希尔伯特变换结合时,能成功区分厚度为0.08 mm缺陷上下表面反射脉冲,反射脉冲的时间分辨率小于0.5 ps,缺陷厚度的检测误差不高于0.03 mm.
ISSN:1001-9014
DOI:10.11972/j.issn.1001-9014.2022.03.010