COMPONENTS DEVIATION DETERMINATIONS

In an example, a non-transitory machine-readable storage medium storing instructions executable by a processor of a computing device to receive device usage data of an electronic device. Further, instructions may be executed by the processor to receive sensor data indicative of an internal state of...

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Main Authors GHOSH, Abhishek, KALWANI, Manohar Lal
Format Patent
LanguageEnglish
French
Published 23.03.2023
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Summary:In an example, a non-transitory machine-readable storage medium storing instructions executable by a processor of a computing device to receive device usage data of an electronic device. Further, instructions may be executed by the processor to receive sensor data indicative of an internal state of the electronic device. The sensor data may include first data associated with a first characteristic of the internal state and second data associated with a second characteristic of the internal state. Furthermore, instructions may be executed by the processor to determine a deviation associated with a component of the electronic device by applying a machine learning model to the device usage data and the sensor data. The deviation may be associated with the first characteristic, the second characteristic, or both. Further, instructions may be executed by the processor to generate an alert notification based on the deviation. Dans un exemple, un support de stockage lisible par machine non transitoire stocke des instructions exécutables par un processeur d'un dispositif informatique afin de recevoir des données d'utilisation de dispositif d'un dispositif électronique. En outre, des instructions peuvent être exécutées par le processeur afin de recevoir des données de capteur indiquant un état interne du dispositif électronique. Les données de capteur peuvent comprendre des premières données associées à une première caractéristique de l'état interne et des secondes données associées à une seconde caractéristique de l'état interne. En outre, des instructions peuvent être exécutées par le processeur afin de déterminer un écart associé à un composant du dispositif électronique par l'application d'un modèle d'apprentissage automatique aux données d'utilisation de dispositif et aux données de capteur. L'écart peut être associé à la première caractéristique et/ou à la seconde caractéristique. En outre, des instructions peuvent être exécutées par le processeur afin de générer une notification d'alerte en fonction de l'écart.
Bibliography:Application Number: WO2021US50140