OPTICALLY TRANSPARENT STACKED BODY INSPECTING METHOD AND INSPECTING DEVICE

• Main Authors: SHIZEN Koji, YAMASHITA Yuuji
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 02.03.2023
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; PHYSICS; TESTING

Provided is an optically transparent stacked body inspecting method with which it is possible to detect markedly smaller foreign matter than with a conventional method. An optically transparent stacked body inspecting method according to an embodiment of the present invention includes detecting a defect in an optically transparent stacked body comprising sheets, by performing a transmission inspection in a state in which four sides of the optically transparent stacked body are gripped and fixed in midair. In one embodiment, the inspecting method additionally includes imparting tension to the optically transparent stacked body. In one embodiment, the inspecting method detects defects having a size of 8 μm to 50 μm in the optically transparent stacked body. In one embodiment, the thickness of the optically transparent stacked body is at most equal to 300 μm. L'invention concerne un procédé d'inspection de corps empilés optiquement transparents avec lequel il est possible de détecter des corps étrangers nettement plus petits qu'avec un procédé classique. Un procédé d'inspection de corps empilés optiquement transparents selon un mode de réalisation de la présente invention comprend la détection d'un défaut dans un corps empilé optiquement transparent comportant des feuilles, en effectuant une inspection par transmission dans un état où les quatre côtés du corps empilé optiquement transparent sont saisis et fixés dans l'air. Dans un mode de réalisation, le procédé d'inspection comprend en outre l'application d'une tension au corps empilé optiquement transparent. Dans un mode de réalisation, le procédé d'inspection détecte des défauts de dimension comprise entre 8 μm et 50 μm dans le corps empilé optiquement transparent. Dans un mode de réalisation, l'épaisseur du corps empilé optiquement transparent est au plus égale à 300 μm. 従来に比べて格段に微小な異物を検出し得る光透過性積層体の検査方法が提供される。本発明の実施形態による光透過性積層体の検査方法は、枚葉の光透過性積層体の４辺を把持して中空に固定した状態で透過検査を行い、光透過性積層体における欠点を検出することを含む。１つの実施形態においては、検査方法は、光透過性積層体に張力を付与することをさらに含む。１つの実施形態においては、検査方法は、光透過性積層体における８μｍ～５０μｍサイズの欠点を検出する。１つの実施形態においては、光透過性積層体の厚みは３００μｍ以下である。