MACROMOLECULE MEASUREMENT METHOD BY X-RAY DIFFRACTION

• Main Authors: MIO, Kazuhiro, INAMASU, Rena, SASAKI, Yuuji, YAMAGUCHI, Hiroki
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 17.11.2022
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

Provided are an analysis device and an analysis method with which it is possible to measure movement of macromolecules on a surface (interface) and obtain information regarding the vicinity of a surface being observed without labelling by observing macromolecules in a state in which X-ray is totally reflected. The present invention provides: an analysis device capable of radiating X-rays at macromolecules at an incidence angle in the vicinity of the critical angle and acquiring time-division diffraction/scattering images; and a method for analyzing macromolecules having a step for radiating X-rays at a macromolecule sample at an incidence angle in the vicinity of the critical angle, and a step for acquiring time-division diffraction/scattering images and evaluating the kinetic property of the macromolecule surface/interface. L'invention concerne un dispositif d'analyse et un procédé d'analyse avec lesquels il est possible de mesurer le mouvement de macromolécules sur une surface (interface) et d'obtenir des informations concernant le voisinage d'une surface qui est observée sans marquage par l'observation de macromolécules dans un état dans lequel les rayons X sont totalement réfléchis. La présente invention concerne : un dispositif d'analyse capable de rayonner des rayons X sur des macromolécules à un angle d'incidence au voisinage de l'angle critique et d'acquérir des images de diffraction/diffusion par répartition dans le temps; et un procédé d'analyse de macromolécules ayant une étape de rayonnement de rayons X sur un échantillon de macromolécule à un angle d'incidence au voisinage de l'angle critique et une étape d'acquisition d'images de diffraction/diffusion par répartition dans le temps et d'évaluation de la propriété cinétique de la surface/interface de la macromolécule. 表面（界面）における高分子の運動を測定でき、Ｘ線が全反射する状態で高分子を観測することによって、標識なしに観測対象の表面近傍の情報が得られる、分析装置および分析方法を提供する。臨界角前後の入射角でＸ線を高分子に照射し、時分割回折・散乱像を取得できる分析装置：ならびに臨界角前後の入射角でＸ線を高分子試料に照射する工程、時分割回折・散乱像を取得し、高分子表面・界面の運動性を評価する工程を有する、高分子の分析方法。