RADIO FREQUENCY CHIPS HAVING WAVEFORM GENERATORS FOR SELF-TESTING

• Main Authors: YANG, Hong Kui, GENG, Jifeng
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 12.08.2021
• Subjects: ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE; ELECTRICITY; TRANSMISSION

Embodiments of apparatus and method for generating waveforms for self-testing of radio frequency (RF) chips are disclosed. In an example, an RF chip includes an RF front-end and a digital front-end. The digital front-end includes an inverse fast Fourier transform (IFFT) module configured to generate at least one M-point IFFT sample, where M is a positive integer, and an IFFT sample transformation module configured to generate an L-point IFFT testing signal based on the at least one M-point IFFT sample. L is a positive integer greater than M and the L-point IFFT testing signal is configured to test a function of the RF chip. Des modes de réalisation de l'invention concernent un appareil et un procédé permettant de générer des formes d'onde pour un essai automatique de puces radiofréquence (RF). Dans un exemple, une puce RF comprend un frontal RF et un frontal numérique. Le frontal numérique comprend : un module de transformée de Fourier rapide (IFFT) inverse configuré pour générer au moins un échantillon IFFT à M points, M étant un nombre entier positif ; et un module de transformation d'échantillon IFFT configuré pour générer un signal de test IFFT à L points d'après l'échantillon ou les échantillons à M points. L est un nombre entier positif supérieur à M et le signal de test IFFT de point L est configuré pour tester une fonction de la puce RF.