METHOD AND SYSTEM FOR TRANSCEIVER CALIBRATION

The object of the invention relates to a method for the calibration of a transceiver device (T) including providing a first calibration device (A) arranged at a distance (D1 ) from the transceiver device (T), and a second calibration device (B) suitable for detecting electromagnetic wave signals arr...

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Main Authors LENDVAY, Károly, SZABÓ, Sándor, HORVÁTH, Kristóf Attila, BALOGH, András, ILL, Gergely, MILÁNKOVICH, Ákos
Format Patent
LanguageEnglish
French
Published 28.03.2019
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Summary:The object of the invention relates to a method for the calibration of a transceiver device (T) including providing a first calibration device (A) arranged at a distance (D1 ) from the transceiver device (T), and a second calibration device (B) suitable for detecting electromagnetic wave signals arranged at a distance (D2) from the transceiver device (T) and at a distance (D) from the first calibration device (A), emitting a first calibration wave signal (k1 ) using the first calibration device (A), which is detected by means of the transceiver device (T) and the second calibration device (B), generating and emitting a response wave signal (v) by means of the transceiver device (T), which is detected by means of the second calibration device (B), then determining the delay constant τ formed as the sum of the transmission and receipt delays of the transceiver device (T) on the basis of the distances (D, D1, D2), the time intervals (ΔΒ1 'Β2', ΔΤ1 Τ2') between the emitting and receipt of the wave signals (k1, k2, v) and the speed of propagation (c) of the wave signals using the formula (I) and adding the delay constant τ to the measured time interval ΔΤ1 Τ2'. The object of the invention also relates to a system (100) for the implementation of the method according to the invention. La présente invention a pour objet un procédé permettant l'étalonnage d'un dispositif émetteur-récepteur (T), comprenant : l'utilisation d'un premier dispositif d'étalonnage (A), disposé à une certaine distance (D1) du dispositif émetteur-récepteur (T), et d'un second dispositif d'étalonnage (B) approprié pour détecter des signaux d'onde électromagnétique et disposé à une certaine distance (D2) du dispositif émetteur-récepteur (T) et à une certaine distance (D) du premier dispositif d'étalonnage (A) ; l'émission, à l'aide du premier dispositif d'étalonnage (A), d'un premier signal d'onde d'étalonnage (k1) qui est détecté au moyen du dispositif émetteur-récepteur (T) et du second dispositif d'étalonnage (B) ; la génération et l'émission, au moyen du dispositif émetteur-récepteur (T), d'un signal d'onde de réponse (v) qui est détecté au moyen du second dispositif d'étalonnage (B) ; puis la détermination, à l'aide la formule (I), de la constante de retard τ formée par la somme des retards d'émission et de réception du dispositif émetteur-récepteur (T) sur la base des distances (D, D1, D2), des intervalles de temps (ΔΒ1 'Β2', ΔΤ1 Τ2') entre l'émission et la réception des signaux d'onde (k1, k2, v) et de la vitesse de propagation (c) des signaux d'onde ; et l'addition de la constante de retard τ à l'intervalle de temps mesuré ΔΤ1 Τ2'. La présente invention a en outre pour objet un système (100) permettant la mise en œuvre du procédé selon l'invention.
Bibliography:Application Number: WO2018HU50038