INLINE X-RAY INSPECTION SYSTEM AND IMAGING METHOD FOR INLINE X-RAY INSPECTION SYSTEM

• Main Author: SADAOKA Noriyuki
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 24.05.2018
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

The purpose of the present invention is to prevent the degradation of internal defect detection accuracy resulting from increased scattered ray component generation between detection elements when a planar detector in which detection elements are densely arranged in two dimensions is used for the purpose of shortening imaging while raising X-ray energy such that X-rays will pass through metal products such as mass-produced castings, and to thereby provide an inline X-ray inspection system capable of highly accurate inline X-ray inspection. To achieve this purpose, this inline x-ray inspection device system, which has a radiation source (1) for irradiating radiation, a detector (2, 5) for detecting the radiation that has passed through a subject to be imaged, a driving mechanism (4) for moving the subject between the radiation source and the detector, a signal processing circuit (8) for quantifying the amount of transmitted radiation measured by the detector, and a calculation device (9) for constructing an image on the basis of signals from the signal processing circuit (8), is characterized by having, as a detection system, a two-dimensional-element-array detector unit (2) having shielding elements partially embedded therein and a two-dimensional-element-array detector unit (5) and in that a transmission image is created using images of the same subject imaged by the two detector units. L'objectif de la présente invention est d'éviter la dégradation de la précision de détection de défaut interne résultant de la génération d'une composante de rayonnement diffusé accrue entre des éléments de détection lorsqu'un détecteur plan dans lequel des éléments de détection sont agencés de façon dense dans deux dimensions est utilisé dans le but de raccourcir l'imagerie en augmentant l'énergie de rayons X de sorte que les rayons X traversent des produits métalliques tels que des coulées produites en masse, et fournir ainsi un système d'inspection par rayons X en ligne permettant une inspection par rayons X en ligne très précise. Afin de réaliser cet objectif, la présente invention concerne un système de dispositif d'inspection à rayons X en ligne, qui comporte une source de rayonnement (1) pour irradier un rayonnement, un détecteur (2, 5) pour détecter le rayonnement qui a traversé un sujet à imager, un mécanisme d'entraînement (4) pour déplacer le sujet entre la source de rayonnement et le détecteur, un circuit de traitement de signal (8) pour quantifier la quantité de rayonnement transmis mesurée par le détecteur, et un dispositif de calcul (9) pour construire une image sur la base de signaux provenant du circuit de traitement de signal (8), qui est caractérisé en ce qu'il comporte, en tant que système de détection, une unité de détecteur à réseau d'éléments bidimensionnel (2) comportant des éléments de blindage partiellement incorporés dans celle-ci et une unité de détecteur à réseau d'éléments bidimensionnel (5) et en ce qu'une image de transmission est générée au moyen d'images du même sujet imagé par les deux unités de détecteur. 本発明の目的は、量産鋳造品のような金属製の製品でＸ線を透過させるためＸ線エネルギーを高くすると同時に短時間での撮像を実現するため、２次元に検出素子を稠密に配列した平面型検出器を使用した場合に、検出素子間で発生する散乱線成分の増加による内部欠陥検出精度悪化を防止し、高精度なインラインＸ線検査を実現させるＸ線インライン検査システムを提供する事にある。上記目的のために本発明では、放射線を照射する放射線源（１）と、撮像対象被検体を透過した放射線を検出する検出器（２、５）と、放射線源と検出器の間に被検体を移動させる駆動機構（４）と、検出器で計測された放射線透過量を数値化する信号処理回路（８）と、これらの信号を元に画像を構成する演算装置（９）からなるＸ線インライン検査装置システムにおいて、検出系として遮蔽素子を部分的に埋め込んだ２次元素子配列検出器ユニット（２）と、２次元素素子配列検出器ユニット（５）と、を保有し、同一被検体に対して前記２つの検出器ユニットで撮像した画像を用いて透過画像を作成することを特徴とする。