CONTACT CONDUCTION JIG AND INSPECTION DEVICE

• Main Author: NUMATA Kiyoshi
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 07.12.2017
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; CURRENT COLLECTORS; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; ELECTRICITY; LINE CONNECTORS; MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; SEMICONDUCTOR DEVICES; TESTING

[Problem] To provide a contact conduction jig and an inspection device which easily improve the ability to absorb variations in height of an object to be in contact with. [Solution] An inspection jig 3 is provided with: a support plate 31 that is a plate-like member and has formed therein a plurality of through-holes H penetrating through the member in the thickness direction; probes Pr that are respectively inserted into the plurality of through-holes (H) and have a tubular shape and a conductive property; and elastomers E that elastically hold the probes Pr inside the through-holes H. Each of the probes Pr has a helical first spring part SO1 that extends and contracts in the axial direction of the corresponding probe Pr and that has a winding direction in a first direction. La présente invention vise à fournir un gabarit de conduction de contact et un dispositif d'inspection qui améliorent facilement la capacité à absorber des variations de hauteur d'un objet destiné à être en contact avec ce dernier. À cet effet, l'invention concerne un gabarit d'inspection 3 qui comprend : une plaque de support 31 qui est un élément en forme de plaque et dans lequel sont formés une pluralité de trous traversants H qui pénètrent à travers l'élément dans la direction de l'épaisseur ; des sondes Pr qui sont respectivement introduites dans la pluralité de trous traversants (H) et ont une forme tubulaire et une propriété conductrice ; et des élastomères E qui maintiennent élastiquement les sondes Pr à l'intérieur des trous traversants H. Chacune des sondes Pr a une première partie ressort hélicoïdal SO1 qui s'étend et se contracte dans la direction axiale de la sonde correspondante Pr et qui a une direction d'enroulement dans une première direction. 【課題】接触対象物の高さばらつきの吸収能力を向上することが容易な接触導電治具、及び検査装置を提供する。 【解決手段】検査治具３は、板状の部材であって、板厚方向に貫通する複数の貫通孔Ｈが形成された支持プレート３１と、複数の貫通孔Ｈにそれぞれ挿通された、筒状の形状を有すると共に導電性を有するプローブＰｒと、各プローブＰｒを、各貫通孔Ｈ内で弾性的に保持するエラストマＥとを備え、各プローブＰｒには、当該プローブＰｒの軸方向に伸縮すると共に巻き方向が第一方向の螺旋状の第一ばね部ＳＯ１が形成されている。