DRIVE DEVICE

• Main Authors: SAKAMOTO Hideyuki, INADA Ryoichi, KADOTA Keiji, HIROTSU Teppei, YAHATA Kouichi
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 12.01.2017
• Subjects: APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC,OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWERSUPPLY SYSTEMS; CONTROL OR REGULATION THEREOF; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUTPOWER; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER; ELECTRICITY; GENERATION

The purpose of the present invention is to diagnose an abnormality detection circuit for detecting an abnormality such as an overcurrent in a power semiconductor while minimizing any increase in the number of insulating elements additionally provided. This invention is provided with a drive circuit 11 for outputting a gate signal to the power semiconductor 6, an abnormality detection circuit 12 for detecting an abnormality in the power semiconductor 6, and a diagnosis signal application circuit 14 for applying a diagnosis signal to the abnormality detection circuit 12. The diagnosis signal application circuit 14 applies the diagnosis signal on the basis of the gate signal outputted by the drive circuit. L'objectif de la présente invention consiste à diagnostiquer un circuit de détection d'anomalie pour détecter une anomalie telle qu'une surintensité dans un semi-conducteur de puissance, tout en réduisant au minimum toute augmentation du nombre d'éléments isolants fournis en plus. Cette invention est pourvue d'un circuit d'entraînement 11 destiné à délivrer en sortie un signal de grille au semi-conducteur de puissance 6, d'un circuit de détection d'anomalie 12 pour détecter une anomalie dans le semi-conducteur de puissance 6, et d'un circuit d'application de signal de diagnostic 14 pour appliquer un signal de diagnostic au circuit de détection d'anomalie 12. Le circuit d'application de signal de diagnostic 14 applique le signal de diagnostic sur la base du signal de grille délivré en sortie par le circuit d'entraînement. 本発明の目的は、追加で設ける絶縁素子の増加を抑制しつつ、パワー半導体の過電流などの異常を検知する異常検知回路の診断を行うことである。　パワー半導体６に対してゲート信号を出力するドライブ回路１１と、パワー半導体６の異常を検知する異常検知回路１２と、異常検知回路１２に対して診断用信号を印加する診断信号印加回路１４と、を備え、診断信号印加回路１４はドライブ回路１１が出力するゲート信号に基づいて、診断用信号を印加する。