PIPELINE TYPE A-D CONVERTER

In each stage, a digital signal of a predetermined number of bits is generated from an input analog signal, and an analog reference signal is generated by means of a D-A conversion section (7, 8) based on the generated digital signal, and then a remainder operation is performed on the input analog s...

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Main Authors OGITA, SHINICHI, KAWABE, AKIRA, KITO, TAKAYASU
Format Patent
LanguageEnglish
French
Japanese
Published 08.10.2009
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Abstract In each stage, a digital signal of a predetermined number of bits is generated from an input analog signal, and an analog reference signal is generated by means of a D-A conversion section (7, 8) based on the generated digital signal, and then a remainder operation is performed on the input analog signal by means of a remainder operation section (9). This A-D converter is so configured as to input a test signal in place of the input analog signal and perform a predetermined test. In the test mode, a controlling section (14a) blocks the supply of the input analog signal to the remainder operation section, and stops the selection of the reference voltage of the D-A conversion section based on the digital signal and, instead, selects the reference voltage based on a D-A conversion control signal for testing, and controls to supply a test signal consisting of a predetermined reference voltage in place of the input analog signal and an analog reference signal to the remainder operation section. Thus, this A-D converter can input a test signal while being remained compact without installing a test signal line separately from a line for normal operation. Dans chaque étage, un signal numérique d'un nombre de bits prédéterminé est généré à partir d'un signal analogique d'entrée, et un signal de référence analogique est généré au moyen d'une section de conversion numérique-analogique (7, 8) sur la base du signal numérique généré, puis une opération de reste est réalisée sur le signal analogique d'entrée au moyen d'une section d'opération de reste (9). Ce convertisseur analogique-numérique est configuré de façon à entrer un signal de test à la place du signal analogique d'entrée et à réaliser un test prédéterminé. Dans le mode de test, une section de commande (14a) bloque l'alimentation du signal analogique d'entrée vers la section d'opération de reste, et stoppe la sélection de la tension de référence de la section de conversion numérique-analogique sur la base du signal numérique et, à la place, sélectionne la tension de référence sur la base d'un signal de commande de conversion numérique-analogique pour un test, et commande la fourniture d'un signal de test constitué d'une tension de référence prédéterminée à la place du signal analogique d'entrée et d'un signal de référence analogique à la section d'opération de reste. Ainsi, ce convertisseur analogique-numérique peut entrer un signal de test tout en étant gardé compact sans l'installation d'une ligne de signal de test séparément d'une ligne pour une opération normale.
AbstractList In each stage, a digital signal of a predetermined number of bits is generated from an input analog signal, and an analog reference signal is generated by means of a D-A conversion section (7, 8) based on the generated digital signal, and then a remainder operation is performed on the input analog signal by means of a remainder operation section (9). This A-D converter is so configured as to input a test signal in place of the input analog signal and perform a predetermined test. In the test mode, a controlling section (14a) blocks the supply of the input analog signal to the remainder operation section, and stops the selection of the reference voltage of the D-A conversion section based on the digital signal and, instead, selects the reference voltage based on a D-A conversion control signal for testing, and controls to supply a test signal consisting of a predetermined reference voltage in place of the input analog signal and an analog reference signal to the remainder operation section. Thus, this A-D converter can input a test signal while being remained compact without installing a test signal line separately from a line for normal operation. Dans chaque étage, un signal numérique d'un nombre de bits prédéterminé est généré à partir d'un signal analogique d'entrée, et un signal de référence analogique est généré au moyen d'une section de conversion numérique-analogique (7, 8) sur la base du signal numérique généré, puis une opération de reste est réalisée sur le signal analogique d'entrée au moyen d'une section d'opération de reste (9). Ce convertisseur analogique-numérique est configuré de façon à entrer un signal de test à la place du signal analogique d'entrée et à réaliser un test prédéterminé. Dans le mode de test, une section de commande (14a) bloque l'alimentation du signal analogique d'entrée vers la section d'opération de reste, et stoppe la sélection de la tension de référence de la section de conversion numérique-analogique sur la base du signal numérique et, à la place, sélectionne la tension de référence sur la base d'un signal de commande de conversion numérique-analogique pour un test, et commande la fourniture d'un signal de test constitué d'une tension de référence prédéterminée à la place du signal analogique d'entrée et d'un signal de référence analogique à la section d'opération de reste. Ainsi, ce convertisseur analogique-numérique peut entrer un signal de test tout en étant gardé compact sans l'installation d'une ligne de signal de test séparément d'une ligne pour une opération normale.
Author KAWABE, AKIRA
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