STACKABLE SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND METHOD FOR OPERATING SAME

• Main Authors: WAKEFIELD, RAY, TRUDEAU, PAUL, G, MAGLIOCCO, PAUL
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 10.04.2003
• Edition: 7
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

A tester configured to stack with at least one other tester to provide a test system for simultaneously testing a number of devices in parallel on different testers, or testing a device having more pins than can be accommodated by a single tester. The tester includes a test site with a number of pin electronics channels, an interface for interfacing with the device, and a computer for interfacing with a host computer in the test system. The testers can be fastened directly to one another or to a common frame. Preferably, the interface enables a single device board to simultaneously engage interfaces on multiple testers. More preferably, the interface extends from a top surface of the tester to engage the device board. Vents in top and front surfaces of an enclosure enables movement of air to cool components of the tester without interference from testers on either side or a back of the enclosure. La présente invention concerne un appareil d'essai conformé à être superposé à au moins un autre appareil d'essai pour constituer un système de test pour la vérification simultanée d'une pluralité de dispositifs en parallèle sur différents appareils d'essai, ou la vérification d'un dispositif présentant un nombre de broches supérieur à celui qui peut être disposé sur un seul appareil d'essai. L'appareil d'essai comporte un site d'essai présentant une pluralité de canaux de broches électroniques, une interface pour l'interfaçage avec le dispositif, et un ordinateur d'interfaçage avec un ordinateur hôte dans le système de test. Les appareils d'essai peuvent être fixés directement les uns aux autres ou via un bâti. De préférence, l'interface permet l'engagement simultané d'une plaque de dispositif unique sur des appareils d'essai multiples. Plus avantageusement, l'interface s'étend à partir d'une surface supérieure de l'appareil d'essai pour être en prise avec la plaque du dispositif. Des évents dans les surfaces supérieure et frontale d'une enceinte permettent la circulation d'air pour le refroidissement des composants de l'appareil d'essai sans interférence des appareils d'essai de chaque côté ou de l'arrière de l'enceinte.