SYSTEMS AND METHODS FOR CONCURRENT AND AUTOMATED TESTING OF ZONED NAMESPACE SOLID STATE DRIVES

• Main Authors: YUAN CHI, MALISIC SRDJAN
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 06.12.2022
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

Embodiments of the present invention provide systems and methods for automatically performing DUT testing on a large number of ZNS SSDs in parallel and in accordance with the configuration and restrictions associated with the various zones that comprise the address space of the ZNS SSDs. A computer process detects ZNS devices and the characteristics thereof (e.g., zone parameters) and uses novel methods of executing read and write tests that can test unique features of the ZNS devices. For example, some embodiments perform efficient and effective testing controls that account for numerous differences in ZNS characteristics and geometries between different device models. Embodiments can track the states of a large number of zones and handle each zone based on predetermined test specifications. 본 발명의 실시예는, ZNS SSD의 주소 공간을 포함하는 다양한 구역과 관련된 구성 및 제한에 따라서, 다수의 ZNS SSD에 대해 DUT 테스트를 병렬로 자동으로 수행하는 시스템 및 방법을 제공한다. 컴퓨터 프로세스는 ZNS 장치 및 이들의 특성(예를 들어, 구역 파라미터)을 검출하고, ZNS 장치의 고유한 기능을 테스트할 수 있는 판독 및 기입 성능 테스트를 실행하는 새로운 방법을 사용한다. 일부 실시예는 예를 들어, 다양한 장치 모델들 사이의 ZNS 특성 및 기하학적 구조의 수많은 차이를 고려하는 효율적이고 효과적인 테스트 제어를 수행한다. 실시예는, 사전 결정된 테스트 사양에 기초해서 다수의 구역의 상태를 추적하고 각 구역을 핸들링할 수 있다.