METHOD AND APPARATUS FOR MICROARRAY SPOT ANALYSIS

• Main Authors: NAM DONG HOON, KIM SOO KYUNG, JANG SEONG UK, KOO CHA RYONG
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 31.10.2022
• Subjects: BEER; BIOCHEMISTRY; CALCULATING; CHEMISTRY; COMPOSITIONS OR TEST PAPERS THEREFOR; COMPUTING; CONDITION-RESPONSIVE CONTROL IN MICROBIOLOGICAL ORENZYMOLOGICAL PROCESSES; COUNTING; ENZYMOLOGY; IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL; MEASURING OR TESTING PROCESSES INVOLVING ENZYMES, NUCLEICACIDS OR MICROORGANISMS; METALLURGY; MICROBIOLOGY; MUTATION OR GENETIC ENGINEERING; PHYSICS; PROCESSES OF PREPARING SUCH COMPOSITIONS; SPIRITS; VINEGAR; WINE

Disclosed are a microarray spot analysis method and apparatus that increase the performance and reliability of spot analysis by setting a section of a test spot using a control spot. The microarray spot analysis method comprises the steps of: detecting a control spot position among input two-dimensional measurement data; setting section areas of the test spot based on the control spot position; measuring the slope angle of each measuring point in each section area with respect to a peak point; calculating the left and right boundary points of each measuring point based on the slope angle; forming an approximate curve using the average value of consecutive measuring points including left and right boundary points; and deriving a valid maximum value or maximum valid value for one direction or an X-axis direction in each section area. 컨트롤 스팟을 이용하여 테스트 스팟의 섹션을 설정함으로써 스팟 분석의 성능과 신뢰성을 높인 마이크로어레이 스팟 분석 방법 및 장치가 개시된다. 마이크로어레이 스팟 분석 방법은, 입력되는 2차원 측정 데이터 중 컨트롤 스팟 위치를 검출하는 단계, 컨트롤 스팟 위치를 기준으로 테스트 스팟의 섹션 영역들을 설정하는 단계, 각 섹션 영역 내 각 측정점의 피크점에 대한 경사 기울기를 측정하는 단계, 경사 기울기에 기초하여 각 측정점의 좌우 경계점을 계산하는 단계, 좌우 경계점을 포함한 연속한 측정점의 평균값을 이용하여 근사치 곡선을 형성하는 단계, 및 각 섹션 영역에서 일방향 또는 X축 방향에 대한 유효한 최대값 또는 최대 유효값을 도출하는 단계를 포함한다.