SUBSTRATE CLEANING COMPOSITION METHOD FOR CLEANING SUBSTRATE USING THE SAME AND METHOD FOR FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME

The present invention relates to a composition for cleaning a substrate, a method for cleaning a substrate using the same, and a method for manufacturing a semiconductor device using the same. The composition for cleaning a substrate, according to present invention, comprises: a styrene-based copoly...

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Main Authors SONG GA YOUNG, PARK MI HYUN, KIM HYUN JIN, LIM HAN SOL, HAN HOON, LEE JUNG YOUL, LEE HYO SAN, PARK JONG KYOUNG
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 24.10.2022
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Summary:The present invention relates to a composition for cleaning a substrate, a method for cleaning a substrate using the same, and a method for manufacturing a semiconductor device using the same. The composition for cleaning a substrate, according to present invention, comprises: a styrene-based copolymer including a first repeating unit represented by Chemical Formula 1-1a and a second repeating unit represented by Chemical Formula 1-1b; an additive; and an alcohol-based solvent. Therefore, it is possible to provide improved particle removal capability during a cracking process of a coating film. 미세 패턴들의 손상을 방지하며 미세 파티클들을 용이하게 제거할 수 있는 기판 세정용 조성물, 그를 이용하는 기판의 세정 방법 및 그를 이용하는 반도체 장치의 제조 방법이 제공된다. 기판 세정용 조성물은, 하기 화학식 1-1a로 표시되는 제1 반복단위 및 하기 화학식 1-1b로 표시되는 제2 반복단위를 포함하는 스티렌계 공중합체, 하기 화학식 2-1로 표시되는 첨가제, 및 탈이온수(Deionized Water)에 대한 용해도가 500 g/L 이하인 알코올계 용매를 포함한다. [화학식 1-1a] JPEGpat00033.jpg3834 (상기 화학식 1-1a에서, R1은 수소 원자이거나, 치환 또는 비치환된 탄소 원자수 1~20의 탄화수소기를 나타낸다.) [화학식 1-1b] JPEGpat00034.jpg3834 (상기 화학식 1-1b에서, X는 친수성 작용기를 나타낸다.) [화학식 2-1] JPEGpat00035.jpg1013 (상기 화학식 2-1에서, R2는 치환 또는 비치환된 탄소 원자수 3~25의 탄화수소기를 나타내고, Y는 친수성 작용기를 나타내고, p는 자연수를 나타낸다.)
Bibliography:Application Number: KR20220045802