패턴화된 반사기들을 포함하는 백라이트들

• Main Authors: VARANYTSIA ANDRII, MAUREY PAMELA ARLENE, BAKER DAVID LYNN, KUKSENKOV DMITRI VLADISLAVOVICH, ORSLEY TIMOTHY JAMES, HAN SONGFENG, MI XIANG DONG, ALLEN KIRK RICHARD
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 17.10.2022
• Subjects: DEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH ISMODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THEDEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY,COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g.SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING; FREQUENCY-CHANGING; NON-LINEAR OPTICS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICS; PHYSICS; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF

백라이트는 기판, 상기 기판에 근접한 복수의 광원들, 상기 기판 상의 제1 반사층, 및 상기 복수의 광원들 위의 복수의 패턴화된 반사기들을 포함한다. 각각의 광원은 상기 기판에 평행한 평면에서 측정된 크기를 포함한다. 각각의 패턴화된 반사기는 대응하는 광원과 정렬되고 그리고 두께 프로파일을 포함한다. 상기 두께 프로파일은 실질적 평면 섹션 및 상기 실질적 평면 섹션으로부터 연장되고 상기 실질적 평면 섹션을 둘러싸는 곡선 섹션을 포함한다. 상기 실질적 평면 섹션은 상기 실질적 평면 섹션의 평균 두께의 약 ±20% 이하만큼 두께가 변한다. 상기 실질적 평면 섹션은 상기 기판에 평행한 평면에서 각각의 광원의 상기 크기 이상의 크기를 포함한다. A backlight includes a substrate, a plurality of light sources proximate the substrate, a first reflective layer on the substrate, and a plurality of patterned reflectors over the plurality of light sources. Each light source includes a size measured in a plane parallel to the substrate. Each patterned reflector is aligned with a corresponding light source and includes a thickness profile. The thickness profile includes a substantially flat section and a curved section extending from and surrounding the substantially flat section. The substantially flat section varies in thickness by no more than plus or minus 20 percent of an average thickness of the substantially flat section. The substantially flat section includes a size in a plane parallel to the substrate equal to or greater than the size of each light source.