라멜라의 제작 방법, 해석 시스템 및 시료의 해석 방법

해석부(11)와, 해석부(11)로부터 이간되도록 설치된 절삭부(12)를 갖는 라멜라(10)를 제작한다. 복수의 라멜라(10)를 라멜라 그리드(20)에 반송하는 경우, 복수의 라멜라(10)는, 기체(21)의 표면으로부터 돌출된 지지부(22)에 의해서 유지되고, Z 방향에 있어서 인접해서 탑재된다. 이때, 절삭부(12)에 의해서, 해석부(11)가 손상을 받는 것을 억제한다. A lamella 10 including an analysis portion 11 and a cutout portion 12 separated from the an...

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Main Authors NOMAGUCHI TSUNENORI, SAWADA ATSUSHI
Format Patent
LanguageKorean
Published 03.06.2022
Subjects
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
ELECTRICITY
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASURING
PHYSICS
TESTING
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Summary:해석부(11)와, 해석부(11)로부터 이간되도록 설치된 절삭부(12)를 갖는 라멜라(10)를 제작한다. 복수의 라멜라(10)를 라멜라 그리드(20)에 반송하는 경우, 복수의 라멜라(10)는, 기체(21)의 표면으로부터 돌출된 지지부(22)에 의해서 유지되고, Z 방향에 있어서 인접해서 탑재된다. 이때, 절삭부(12)에 의해서, 해석부(11)가 손상을 받는 것을 억제한다. A lamella 10 including an analysis portion 11 and a cutout portion 12 separated from the analysis portion 11 is produced. When a plurality of the lamellae 10 are transported to a lamella grid 20, the plurality of lamellae 10 are supported by a support portion 22 protruding from a surface of a substrate 21, and are mounted adjacent to each other in a Z direction. At this time, the cutout portion 12 prevents the analysis portion 11 from damage.
Bibliography:Application Number: KR20227014384